1.2. Интерференция света в тонких пленках
Интерференцию света можно наблюдать не только в лабораторных условиях с помощью специальных установок и приборов, но и в естественных условиях. Так, легко наблюдать радужную окраску мыльных пленок, тонких пленок нефти и минерального масла на поверхности воды, оксидных пленок на поверхности закаленных стальных деталей (цвета побежалости).
Все эти явления обусловлены интерференцией света в тонких прозрачных пленках, возникающей в результате наложения когерентных волн, возникающих при отражении от верхней и нижней поверхностей пленки.Исследование интерференции в тонких пленках позволяет определять ряд практически важных величин – толщину пленки, её показатель преломления, температуру нагрева под закалку деталей, длину волны излучения и т.д.
Схема возникновения интерференции света в отраженном свете показана на рис. 1.7. На пленку толщиной d падает плоская монохроматическая волна (λ0 = соnst) под углом i. Предположим, что по обе стороны от пленки с показателем преломления n находится одна и та же среда (например, воздух с показателем преломления n0 =1).
Рассмотрим один луч, падающий на верхнюю поверхность пленки. На поверхности пленки в точке О падающий луч разделится на два: первый (1) – отразится от верхней поверхности пленки, второй (2) – преломится. Преломленный луч, дойдя до точки С, частично преломится в воздух, а частично отразится и пойдет к точке В.
![]() |
В этой точке он вновь частично отразится в пленку и частично преломится, выйдя в воздух под углом i. Лучи 1 и 2, образовавшиеся в результате отражения от верхней и нижней поверхностей пленки, когерентны. Если на их пути поставить собирательную линзу (глаз), то лучи сойдутся в одной из точек М фокальной плоскости, образуя на экране Э интерференционную картину (интерференция в отраженном свете).
Результат интерференции в точке М определится оптической разностью хода лучей 1 и 2. Оптическую разность хода эти лучи набирают от точки О до плоскости АВ , являвшейся фронтом вторичных (отраженных) лучей. Фронт АВ перпендикулярен лучам 1 и 2.
Итак, оптическая разность хода лучей 1 и 2
, (1.21)
где п – показатель преломления пленки; n0 – показатель преломления воздуха, n0= 1; а λ0/2 – длина полуволны, потерянной при отражении луча 1 в точке О от границы раздела с оптически более плотной средой (n > n0).
Используя выражение (1.21) для оптической разности хода, условия максимумов и минимумов интерференции, а также закон преломления, получим:
, (1.22)
где k = 0, 1, 2, … (в этом случае отраженные лучи будут максимально усилены, т.е. наблюдается максимум интерференции);
, (1.23)
(в этом случае наблюдается наибольшее ослабление отраженных лучей – минимум интерференции).
При освещении пленки белым светом она окрашивается в какой-либо определенный цвет, длина волны которого удовлетворяет максимуму интерференции. Следовательно, по цвету пленки можно оценивать её толщину.
Интерференция наблюдается также и в проходящем свете. Оптическая разность хода (ΔL) для проходящего света отличается от ее значения для отраженного света на λ0/2. Следовательно, максимуму интерференции в отраженном свете для данной длины волны соответствует минимум интерференции в проходящем, т.е. в отраженном и проходящем свете пленка окрашивается в дополнительные (до белого) цвета.
Возможность ослабления отраженного света вследствие интерференции в тонких пленках широко используется в современных оптических приборах (фотоаппаратах, биноклях, перископах, микроскопах и т.д.) для улучшения их качества.
Способ получения высокоотражающих покрытий и улучшения качества оптических приборов получил название «просветления оптики».Прохождение света через каждую преломляющую поверхность линзы, например, через границу стекло - воздух, сопровождается отражением ~ 4 % падающего потока (при показателе преломления стекла n = 1,5). Так как современные объективы содержат большое количество линз, потери светового потока из-за отражений велики. В результате интенсивность прошедшего света ослабляется, и светосила оптического прибора уменьшается. Кроме того, отражение от поверхностей линз приводит к возникновению бликов, что, например, в военной технике, демаскирует местонахождение прибора. Для устранения указанных недостатков осуществляют так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхности линз наносят тонкие пленки с показателем преломления, меньшим показателя преломления материала линз (1< n < nст). При отражении света от границ раздела воздух - пленка и пленка - стекло возникает интерференция когерентных лучей 1¢ и 2¢ (рис. 1.8).
Толщину пленки d и показатели преломления стекла nст и пленки ппл подбирают так, чтобы при интерференции в отраженном свете лучи 1¢ и 2¢ гасили друг друга. Для этого их оптическая разность хода должна удовлетворять условию (1.17). Так как потери полуволн происходят на обеих поверхностях пленки, и свет падает нормально (угол падения i = 0), условие минимума в отраженном свете запишется так:
, (1.24)
где 2d · nпл - оптическая разность хода лучей 1¢ и 2¢. Толщину пленки выбирают минимальной (k= 0). Тогда
![]() |
. (1.25)
Так как добиться одновременного гашения всех длин волн спектра невозможно, то это обычно делается для зеленого цвета (λ0 = 550 нм), к которому человеческий глаз наиболее чувствителен (в спектре излучения Солнца эти лучи имеют наибольшую интенсивность).
В отраженном свете объективы с просветленной оптикой кажутся окрашенными в красно-фиолетовый цвет. Это, разумеется, несколько искажает цветопередачу в изображении. Для улучшения характеристик просветляющего покрытия его делают из нескольких слоев, что «просветляет» оптические стекла более равномерно по всему спектру.
При изучении интерференции света в тонких пленках различают полосы равного наклона и равной толщины.
Из выражений (1.22, 1.23) следует, что для данных λ0 , d, и п каждому углу падения лучей соответствует своя интерференционная полоса. Интерференционные линии, возникающие в результате наложения лучей, падающих на плоскопараллельную пластинку под одинаковыми углами, называются полосами равного наклона.
Если пленка имеет переменную толщину d ≠ соnst, а λ0 , n и i неизменны, то на экране возникает система интерференционных полос, называемых полосами равной толщины. Каждая из полос возникает за счет отражения от мест пленки, имеющих одинаковую толщину.
Классическим примером полос равной толщины являются кольца Ньютона. Они наблюдаются при отражении света от воздушного зазора, образованного плоскопараллельной пластинкой и соприкасающейся с ней плосковыпуклой линзой с большим радиусом кривизны R (рис. 1.9). В этом случае свет падает нормально на плоскую поверхность линзы. При наложении лучей, отраженных от верхней и нижней поверхностей воздушного клина, возникают интерференционные полосы равной толщины, имеющие вид концентрических окружностей (кольца Ньютона).
![]() |
В отраженном свете оптическая разность хода (с учетом потери полуволны λ0/2 при отражении от плоскопараллельной пластинки):
,
где d – ширина зазора. Из рис. 1.9 следует, что
R2 = r2 + (R – d)2 ,
где R – радиус кривизны линзы; r – радиус кольца Ньютона (все точки кольца соответствуют одинаковой толщине d зазора). Учитывая, что d
Еще по теме 1.2. Интерференция света в тонких пленках:
- Орган зрения. Зрительный анализатор.
- § 2.10. ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ
- §16.1. НАЗНАЧЕНИЕ И СХЕМА СТУПЕНЧАТОГО СЖАТИЯ
- 2. Организация оперативного хранения дел
- Общая эколого-географическая и морфофизиологическая характеристика приматов.
- Судопроизводство
- Ранее психомоторное (физическое) развитие
- Степаненко К.В.. КОНСПЕКТ ЛЕКЦІЙ з дисципліни ПРАВО ЄВРОПЕЙСЬКОГО СОЮЗУ. Дніпро - 2016, 2016
- Анищенко А.В.. Крестьянские (фермерские) хозяйства: создание, деятельность, налогообложение. Российская газета. Выпуск 3. 2017, 2017
- Административные правонарушения и административная ответственность юридических лиц. Лекция,
- Уголовная и административная ответственность Генерального директора, Директора, бухгалтера. Лекция,
- Адвокатская деятельность и адвокатура: Сборник нормативных актов и документов: в 2 т. Т. II / Под общ. ред. Ю. С. Пилипенко. — М.: Федеральная палата адвокатов РФ,2017. — 736 с., 2017
- Адвокатская деятельность и адвокатура: Сборник нормативных актов и документов: в 2 т. Т. I / Под общ. ред. Ю. С. Пилипенко. — М.: Федеральная палата адвокатов РФ, 2017. — 528 с.,
- Современное состояние адвокатуры и пути ее совершенствования : сборник материалов Международной научнопрактической конференции - Международных чтений, посвященных 176-летию со дня рождения Ф. Н. Плевако, Москва, 21 апреля 2018 г. / А.Н. Маренков. — Москва : РУСАЙНС,2019. — 286 с., 2019
- Административная юстиция. Курс лекций,


